Der Wettbewerb GOM Education Award für Studenten zum 3D-Scannen wurde vom Messtechnik-Hersteller GOM gestartet. Er richtet sich an Studenten, die mit einem Atos 3D-Scanner einen Praktikumsversuch ausarbeiten sollen. Die Vorschläge müssen bis zum 30. Juni 2017 in englischer Sprache eingereicht worden sein, die im Anschluss von einer fachkundigen Jury bewertet werden. Der Gewinner kann sich über 3000 Euro freuen und darf seine Idee auf der 3D Metrology Conference 2017 den Vertretern bekannter Unternehmen präsentieren.
Der Education Award soll Firmenangaben zufolge die praxisnahe Ausbildung in der Kategorie 3D-Messtechnik fördern, weil sich das vollflächige 3D-Scannen als Industriestandard im Reverse Engineering und der Qualitätssicherung etabliert habe. Das 3D-Scannen sei zudem die Basis für Industrie 4.0. Denn die vollständige 3D-Digitalisierung von Bauteilen erlaube erst die selbststeuernde Qualitätssicherung in Produktionsprozessen.
Das Bildungspaket „Atos for Education“ entwickelte GOM zur Förderung des Unterrichts an berufsbildenden Schulen, Hochschulen und Universitäten. In dem Paket sind industrielle Hardware, ein Programm zum 3D-Scannen, zur 3D-Inspektion, ausgearbeitete Labortests und Vorlesungsmaterialien enthalten. Das zweite Paket „Armis for Education“ hat Anwendungen im Bereich der Material-, und Bauteilprüfung als Zielgruppe. Die Education Pakete können hier eingesehen werden.
